Аппаратно-программный комплекс нанотехнологий (СЗМ)

Добавить отзыв

Аппаратно-программный комплекс нанотехнологий (СЗМ)

Доступность: Есть в наличии

5 742 988,00 руб.

Описание товара

Подробности

"Принцип работы : воздействие сил со стороны поверхности образца на острие сканирующей иглы (Ван-дер - Ваальсовая сила) Основные характеристики: встроенный блок управления стол перемещаемый по осям XY система виброизоляции защита от звуковых и воздушных помех встроенная видеокамера Режимы измерений: статическая сила динамическая сила простая спектроскопия Режимы работы: статический режим динамический режим режим построения кривых зависимости подвода/отвода силы взаимодействия зонда с поверхностью образца от расстояния между ними режим регистрации амплитуды и частоты колебаний зонда Сканирующая головка: количество : 1 шт. тип сканирования: линейный, низковольтный, электромагнитный встроенный блок управления размещение : виброизолированная платформа интерфейс USB 2.0 механизм доступа к зонду и образцу автоматический отвод сканирующей головки автоматический выключатель освещения образца автоматическое позиционирование : вертикальное Образец: крепление : горизонтальное возможность магнитной фиксации светодиодная подсветка образца автоматическое отключение подсветки Юстировка кантилевера с автоматической регулировкой Консоль кантилевера с канавками Видеокамера вида сверху: количество : 1 шт. тип камеры : цифровая цветная USB интерфейс Электрическое подключение сканирующей иглы Функция auto-home для защиты кантилевера Набор кантилеверов для статического режима : 4 шт. Набор кантилеверов для динамического режима : 4 шт. Набор держателей для собственных образцов : 4 шт. Набор образцов: микроструктура Образец CD диска поперечное сечение кожи бактерии стафилококк углеродные нанотрубки (УНТ) управляемая конденсаторная матрица (УКМ), структура чипа Набор инструментов для монтажа кантилевера и образцов Блок питания Питание от российской бытовой сети 220В/50Гц Кейс Руководство по эксплуатации с описанием экспериментов: основы метода визуализации основы силовой спектроскопии контраст материалов MFM методы изображения биологических образцов Режимы измерения: простая спектроскопия, статическая сила, динамическая сила Контрольно-измерительное устройство: количество : 1 шт. количество ядер процессора : 2 шт. тип ОЗУ : DDR3 оптический привод DVD-ROM звуковой контроллер интегрированный клавиатура манипулятор мышь устройство видеоотображения с технологией LED : 1 шт. предустановленная операционная система программное обеспечение для измерения, манипуляции, анализа и визуализации (в одном, двух и трех измерениях) Функциональные характеристики программного обеспечения для работы с цифровой лабораторией: Управление компактными комплексами нанотехнологий, выбор параметров сканирования возможность выбора оси ординат Возможность ручного и автоматического приближения кантилевера к поверхности Измерение топографии и распределение сил на поверхности образца Отображение в виде двумерных графиков с цветным кодированием либо трехмерное отображение Контроль параметров PID усилителя обратной связи при сканировании образца Выбор параметров статического и динамического сканирования Автокоррекция наклона образца Возможность симуляции сканирования поверхности кристалла высокоориентированного пироэлектрического графита Измерение распределения электрических и магнитных полей на поверхности образца "

Дополнительно

Дополнительно

Вес 5000.0000
Производитель Нет
Страна изготовитель

Отзывы

Напишите ваш собственный отзыв

Оставлять отзывы могут только зарегистрированные пользователи. Пожалуйста, войдите или зарегистрируйтесь

Метки товара

Метки товара

Используйте пробелы для отделения меток. Используйте одинарные кавычки (') для фраз.